Produkter til quartz korrigeret (4)

For at fjerne spåner med en spånestørrelse på op til 0,3 mm og stansespåner fra jernkomponenter anvender OTH metoden for kemisk afgratning. Med denne strømfrie metode kan både udvendige og indvendige spåner samt skjulte spåner i borekryds og ved underkæringer på jernarbejder jævnt afkortes. Resultatet er spånefrie komponenter med en glat overflade uden at bryde eller afrunde komponentkanterne. Afbrydelsen kan udføres med en nøjagtighed på få mikrometer. OTH kan bearbejde både ramme- og tromlevarer. Da de behandlede overflader er meget aktive, kan delene efterfølgende passiveres eller forsynes med en yderligere korrosionsbeskyttelse. Med en ekstra rengøring opfylder komponenterne også kravene til komponentrenshed med hensyn til tilladt restsnavs.

Vores målemikroskoper har høj kvalitetsoptik i et robust letmetalhus. De er universelt anvendelige, f.eks. til test af hårdhed, evaluering af Brinell- og Vickers-hårdhed, i grafik eller til kontaktfri måling af små dele og små afstande. Vores 20x/7 mm, 30x/5 mm, 40x/4 mm, 60x/2 mm og 100x/1 mm målemikroskoper har batteridrevet LED-belysning som standard.

Diamant Testlaboratorium GmbH Idar-Oberstein vurderer slebne diamanter i henhold til reglerne fra International Diamond Council (IDC).

Under den kemiske afrensningsproces letter et kemisk stof fjernelsen af maling eller hjulbelægning.